National Instruments, proveedor de sistemas basados en plataformas que permiten a ingenieros y científicos resolver los desafíos de ingeniería más grandes del mundo, anuncia las actualizaciones del Sistema de Pruebas Inalámbricas (WTS, por sus siglas en inglés), la solución de este fabricante para la prueba automatizada de dispositivos inalámbricos.
La versión más reciente del WTS (1.3) incluye soporte para configuraciones multicanal 8×8 y pasos de prueba 802.11ax personalizados con control de dispositivo bajo prueba para realizar la prueba paralela eficiente de nuevos dispositivos de conectividad basados en el borrador de norma IEEE 802.11ax. Además, la nueva versión 1.3 mejora la prueba paralela de Bluetooth 5 y los estándares de Internet de Cosas IoT de bajo consumo, como ZigBee y Z-Wave.
El nuevo proyecto de estándar 802.11ax incluye cambios significativos en la capa física para ofrecer un promedio más alto de rendimiento de datos por usuario en entornos concurridos. Estos cambios introducen más complejidad en la caracterización, la validación del diseño y los esfuerzos de prueba de producción, pero los ingenieros pueden aprovechar las ventajas del software para el sistema de pruebas inalámbricas para automatizar sus soluciones de medición 802.11ax para una cobertura de prueba precisa y extensa de sus nuevos diseños.
El software para instrumentos y los transceptores vectoriales de señal de NI, alimentan múltiples configuraciones de entrada múltiple, salida múltiple (MIMO) hasta 8×8, pruebas simultáneas de banda dual y mediciones precisas de magnitud del vector de error (EVM). El nuevo software también aborda la difícil tarea de crear una variedad de escenarios multiusuarios basados en disparadores en los que cada usuario simulado tiene configuraciones de onda únicas e impedimentos.
Complementos en el software para el sistema de pruebas inalámbricas
Además, la versión 1.3 del WTS también incluye actualizaciones del TestStand Wireless Test Module. Como una extensión del software TestStand, el nuevo TestStand WTM simplifica la creación de complejas secuencias de pruebas inalámbricas para laboratorios o fábricas.
Ayuda a los ingenieros a lograr tiempos de prueba rápidos y alto rendimiento programando automáticamente la ejecución de planes de prueba multisitios para dispositivos de conectividad inalámbrica.
